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18 avril 2024 Hniya EL KHCHAI

Caractérisation multi-échelle de matériaux par sondes électronique et ionique – Concours externe – FSI

Mission du poste
La personne recrutée devra mettre en œuvre et optimiser, en tant qu’expert, les
préparations et analyses d’échantillons en microscopie électronique à balayage
et faisceau d’ions focalisés (préparation de lames TEM, imagerie haute
résolution et microanalyse corrélative en 2D (vues planaire et latérale) et 3D)
en relation avec les personnels de recherche utilisateurs du service.
Elle devra définir et conduire les analyses sur l’équipement de microanalyse
par spectrométrie couplée de rayons X caractéristiques par dispersion d’énergie
(EDS) et de masse d’ions secondaires (TOF[1]SIMS)
en relation avec les autres personnels du service et les personnels de
recherche utilisateurs du service.
Elle contribuera au bon fonctionnement des services « MEB » et « Sonde Ionique
» de l’unité en relation avec les responsables des services et des autres
équipements et plus généralement aux missions collectives permettant le bon
fonctionnement du Centre.

Activité du poste
Pour remplir ces missions, la personne recrutée évaluera, proposera et mettra
en œuvre les techniques et méthodes de préparation, de mesures, de
caractérisations ou d’observations adaptées aux caractéristiques des échantillons
étudiés et aux objectifs du travail. Elle améliorera le protocole de l’expérience
et procédera au réglage de l’équipement (calibration, alignement, …). Elle
traitera, interprétera et mettra en forme les données expérimentales, pour que
les résultats obtenus répondent aux demandes des utilisateurs des équipements.
Elle assurera l’accueil, la formation et l’assistance des personnels de
recherche utilisateurs du service (chercheurs, doctorants, industriels, …).
Elle appliquera et fera appliquer les règles d’hygiène, de sécurité et de
qualité lors de l’utilisation et de la maintenance des équipements du service.
Afin de continuer à garantir des caractérisations au meilleur niveau, la
personne recrutée assurera l’adaptation des instruments aux nouveaux besoins de
la recherche en suivant les évolutions des techniques de la microscopie
électronique à balayage, faisceau d’ion focalisé et spectroscopie de masse
d’ions secondaires. Elle se formera en interne ou externe pour leur mise en
œuvre.


Le profil de poste complet est disponible en pièce jointe.

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